亿联智控科技取得一种集成电路测试装置专利，使集成电路在测试中受热更均匀、结果更准确

金融界2024年12月28日消息，国家知识产权局信息显示，亿联智控科技（深圳）有限公司取得一项名为“一种集成电路测试装置”的专利，授权公告号CN 222212820 U，申请日期为2024年3月。
专利摘要显示，本实用新型涉及电路测试技术领域，更具体地说，涉及一种集成电路测试装置。
针对现有测试装置受热不均、测试结果不准确的问题，所采取的改进包括：测试箱、位于测试箱的内部的放置架；放置架包括主架体、安装在主架体上的至少一个夹持单元；夹持单元包括配合夹持电路板的两个活动夹持臂；测试箱的内部还设置有驱动主架体旋转的驱动组件、对称分布在放置架两侧的两根加热灯管，以及调节组件；主架体的旋转中心线和夹持单元的对称中心线重合；驱动组件与测试箱固定。
采用改进后，使得安装有集成电路的电路板在测试过程中，上下两面受热更为均匀，相应的，集成电路的耐高温检测结果也更为准确。
本文源自：金融界作者：情报员

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